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Testprogramm für Scanner an WIA-Schnittstelle

Ein Thema von RWarnecke · begonnen am 12. Nov 2012 · letzter Beitrag vom 13. Nov 2012
 
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RWarnecke

Registriert seit: 31. Dez 2004
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4.408 Beiträge
 
Delphi XE8 Enterprise
 
#5

AW: Testprogramm für Scanner an WIA-Schnittstelle

  Alt 12. Nov 2012, 11:03
Über die HI-Components bin ich bei meiner Such nach Komponenten auch gestolpert. Das einzige was mich im Moment noch daran stört ist der hohe Preis. Desweiteren wollte ich es auch mal selber über die Type-Library versuchen. Ich werde noch ein paar Anläufe unternehmen und wenn es keine Besserung gibt, werde ich wohl auf die HI-Components zurückgreifen. Man will ja auch noch ein bisschen was dabei lernen, wenn man es selber probiert oder ?
Rolf Warnecke
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